н¥y

Гвалдов И. В. Исследование дефектной структуры поверхности кристалла кремния с помощью СЗМ

Гвалдов И. В. Исследование дефектной структуры поверхности кристалла кремния с помощью СЗМ : выпускная квалификационная работа (ВКР) по направлению подготовки 03.03.02 - Физика, направленность (профиль) «Физика полупроводников» / И. В. Гвалдов ; рук. О. И. Марков. - Орел : [б. и.], 2025. – 43 с.

Для того чтобы скачать файл, Вам необходимо войти или зарегистрироваться.