Козлов А. А. Анализ распределения температуры в транзисторной структуре подложка-проводник-пассивация от точечного источника тепла, рассчитанного с использованием метода изображений

Козлов А. А. Анализ распределения температуры в транзисторной структуре подложка-проводник-пассивация от точечного источника тепла, рассчитанного с использованием метода изображений : выпускная квалификационная работа (ВКР) по направлению подготовки 03.04.02 - Физика, направленность (профиль) «Теоретическая и экспериментальная физика конденсированных сред» / А. А. Козлов ; рук. В. О. Турин. - Орел : [б. и.], 2025. – 63 с.